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Journal of Electronic Testing-Theory and Applications《电子测试杂志:理论与应用》 (官网投稿)

简介
  • 期刊简称J ELECTRON TEST
  • 参考译名《电子测试杂志:理论与应用》
  • 核心类别SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录(维普), 知网外文库,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气。涵盖范围包括但不限于以下主题:VLSI器件、印刷电路板及电子系统测试;模拟与数字电子电路测试;微处理器、存储器及信号处理器件测试;故障建模;测试生成;故障模拟;可测试性分析;可测试性设计;可测试性综合;内建自测试;测试规范;容错技术;硬件形式验证;验证仿真;设计调试;测试与诊断的人工智能方法及专家系统;自动测试设备;测试夹具;电子束测试系统;测试编程;测试数据分析;测试经济学;质量与可靠性;CAD工具;晶圆级集成器件测试;可靠系统测试;制造良率与良率提升设计;失效模式分析与工艺改进。展开更多

主要研究方向:

等待设置主要研究方向
工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气。涵盖范围包括但不限于以下主题:VLSI器件、印刷电路板及电子系统测试;模拟与数字电子电路测试;微处理器、存储器及信号处理器件测试;故障建模;测试生成;故障模拟;可测试性分析;可测试性设计;可测试性综合;内建自测试;测试规范;容错技术;硬件形式验证;验证仿真;设计调试;测试与诊断的人工智能方法及专家系统;自动测试设备;测试夹具;电子束测试系统;测试编程;测试数据分析;测试经济学;质量与可靠性;CAD工具;晶圆级集成器件测试;可靠系统测试;制造良率与良率提升设计;失效模式分析与工艺改进。

Journal of Electronic Testing-Theory and Applications《电子测试杂志:理论与应用》(双月刊). The Journal of Electronic Testing, the only journal specifically dedica ...[显示全部]
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征稿信息

万维提示:

1、投稿方式:在线投稿。

2、期刊网址:https://link.springer.com/journal/10836

3、投稿网址:

https://submission.nature.com/new-submission/10836/3

4、官网邮箱:agrawvd@auburn.edu(主编)

(更多编辑邮箱见期刊官网信息)

5、期刊刊期:双月刊,逢双月出版。

20251223日星期二


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