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Metrology and Measurement Systems《计量与测量系统》 (官网投稿)

简介
  • 期刊简称METROL MEAS SYST
  • 参考译名《计量与测量系统》
  • 核心类别SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录(维普),外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION仪器仪表。征稿范围:欢迎测量科学及相关技术的研究、开发与应用领域的投稿。涵盖主题包括:测量的理论、通用原理与应用;物理、化学及生物量测量;医疗测量;传感器与换能器;测量数据采集;测量信号传输;数据处理与分析;测量系统与嵌入式系统;测量仪表的设计、制造与评估。投稿应突出所提方法和/或技术的创新性,并通过实验测试、可靠仿真或数值算例验证其性能。直接涉及测量过程的文章需包含适当的不确定度分析。展开更多

主要研究方向:

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工程技术-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION仪器仪表。征稿范围:欢迎测量科学及相关技术的研究、开发与应用领域的投稿。涵盖主题包括:测量的理论、通用原理与应用;物理、化学及生物量测量;医疗测量;传感器与换能器;测量数据采集;测量信号传输;数据处理与分析;测量系统与嵌入式系统;测量仪表的设计、制造与评估。投稿应突出所提方法和/或技术的创新性,并通过实验测试、可靠仿真或数值算例验证其性能。直接涉及测量过程的文章需包含适当的不确定度分析。

Metrology and Measurement Systems《计量与测量系统》(季刊). Metrology and Measurement Systems is an international journal, peer-reviewed, quarterly-published, lau ...[显示全部]
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征稿信息

万维提示:

1、投稿方式:在线投稿。

2、期刊网址:https://metrology.wat.edu.pl/

3、投稿网址:https://www.editorialsystem.com/mms

4、官网邮箱:metrology@wat.edu.pl

(更多编辑邮箱见期刊官网信息)

5、期刊刊期:季刊,一年出版4期。

2026116日星期五


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