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Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》 (官网投稿)

简介
  • 期刊简称MICROELECTRON RELIAB
  • 参考译名《微电子学可靠性》
  • 核心类别高质量科技期刊(T2-2025), SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录(维普), 知网外文库,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气;NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY纳米科技;PHYSICS, APPLIED物理:应用。期刊致力于传播微电子器件、电路和系统可靠性领域的最新研究成果及相关信息,涵盖从材料、工艺制造到设计、测试与运行的全链条研究。期刊主题包括:测量、理解与分析;评估与预测;建模与仿真;方法与优化。同时欢迎将可靠性与微电子工程其他重要领域(如设计、制造、集成、测试及现场运行)相结合的研究,尤其鼓励报道该领域具体应用案例的实践性论文。展开更多

主要研究方向:

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工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气;NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY纳米科技;PHYSICS, APPLIED物理:应用。期刊致力于传播微电子器件、电路和系统可靠性领域的最新研究成果及相关信息,涵盖从材料、工艺制造到设计、测试与运行的全链条研究。期刊主题包括:测量、理解与分析;评估与预测;建模与仿真;方法与优化。同时欢迎将可靠性与微电子工程其他重要领域(如设计、制造、集成、测试及现场运行)相结合的研究,尤其鼓励报道该领域具体应用案例的实践性论文。

Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》(月刊). Microelectronics Reliability, is dedicated to disseminating the latest research results and related informa ...[显示全部]
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征稿信息

万维提示:

1、投稿方式:在线投稿。

2、期刊网址:

https://www.sciencedirect.com/journal/microelectronics-reliability

3、投稿网址:https://www.editorialmanager.com/micrel

4、期刊刊期:月刊,一年出版12期。

2026116日星期五


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