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IEEE Design & Test《IEEE设计与测试》 (官网投稿)

简介
  • 期刊简称IEEE DES TEST
  • 参考译名《IEEE设计与测试》
  • 核心类别SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录(维普),外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机:硬件;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气。微电子系统(从器件、电路到完整片上系统及嵌入式软件)设计与测试相关模型、方法及工具的前沿研究成果。杂志聚焦当前及近期的产业实践,涵盖技术教程、实操指南与真实案例研究。重点关注领域包括:半导体集成电路设计、半导体知识产权核、设计/验证/测试技术、制造良率设计、嵌入式软硬件系统、低功耗与能效设计、电子设计自动化工具、实用技术及行业标准。展开更多

主要研究方向:

等待设置主要研究方向
工程技术-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机:硬件;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气。微电子系统(从器件、电路到完整片上系统及嵌入式软件)设计与测试相关模型、方法及工具的前沿研究成果。杂志聚焦当前及近期的产业实践,涵盖技术教程、实操指南与真实案例研究。重点关注领域包括:半导体集成电路设计、半导体知识产权核、设计/验证/测试技术、制造良率设计、嵌入式软硬件系统、低功耗与能效设计、电子设计自动化工具、实用技术及行业标准。

IEEE Design & Test《IEEE设计与测试》(双月刊). IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods and tools used to ...[显示全部]
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征稿信息

万维提示:

1、投稿方式:在线投稿。

2、期刊网址:

https://ieee-ceda.org/publication/design-test

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6221038

3、投稿网址:

https://ieee.atyponrex.com/journal/dandt

4、官网邮箱:pande@wsu.edu(主编)

5、期刊刊期:双月刊,一年出版6期。

20251112星期三


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